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Sunscan作物冠层分析系统

Sunscan作物冠层分析系统

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产品名称: Sunscan作物冠层分析系统

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产品编号: Sunscan

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产品产地: UK

品牌商标: Delta-T

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SunScan 冠层分析系统

   通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI);SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

  
   根据冠层吸收的Beer法则(Beer's law for canopy absorption)、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell's Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

标准组成:(系统一  SS1-STND2版)
  SunScan探测器:一支1米长,内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器;
  反射系数传感器(BFS):综合了2个PAR传感器,并能很容易地计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光(the beam fraction)的比例关系;
  数据采集终端:一种从采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑,内含2M内存;
  SunData软件:用来对测量参数进行分析处理;
  三角架:用来安放BFS。

其它可选件:
  BF3传感器:(系统二 SS1-R3-BF3版)

参数:
  1 探测器工作区域:1000x13mm宽,传感器间距15.6mm
  2 探测器光谱响应:400-700nm (PAR)

  3 探测器测量时间:120ms
  4 探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1
  5 探测器最大读数:2500μmol.m-2.s-1
  6 操作温度:0 - 60 °C

  7 BFS电缆长度:标准为7米,可扩展到100米;
  8 内存:2M内存,包含程序;1600K RAM 可用于储存数据;

系统三 SS1-BF3-R4版
SunScan+BF3 radio system (RL4) with Radio link 434MHz