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比表面积及孔隙率测定仪

比表面积及孔隙率测定仪

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产品名称: 比表面积及孔隙率测定仪

英文名称:

产品编号: JW-K

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产品产地: 北京精微高博

品牌商标: 精微

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北京精微高博科技开发中心
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JW-K型氮吸附比表面及孔径分布分析

  精微高博公司研制系列比表面积分析仪、比表面积及孔径分布仪、BET法比表面积仪、比表面积测定仪等,技术参数如下:

主机功能:   (1)吸(脱)附等温曲线测定

             (2)孔径分布测定

             (3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值

             (4)比表面快速测定(直接对比法)

测定范围:   (1)孔径:2nm~200nm           (2) 比表面:0.1~3500㎡/g

测量原理:    动态常压连续氮吸附法(国内首创)

气体:        高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)

气体流量:    ≤100mL/min

流量控制:    稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%

测量压力:    常压

氮气相对压力:调节范围  0.05-0.98

测量重复精度:≤±3%

测试时间:   (1)BET比表面:平均每个样品30分钟

             (2)孔径分布:平均每个样品3~4小时

             (3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。