MX61显微镜
MX61奥林巴斯MX61/MX61L的特点半导体/FPD检查显微镜;为用户提供高效率。MX61适用于大200mm的样本,而MX61L则可适用于大300mm的样本。1、大型载物台搭载:可用于400*300mm液晶基板,300mm晶圆全面检查(MX61L)。2、采用高NA的透射光聚光镜
正像正置金相显微镜LW200Z-4LJT/B
正像正置LW200Z-4LJT金相显微镜在观察时成像为正像,大于3 微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
