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比表面积分析仪

比表面积分析仪

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产品名称: 比表面积分析仪

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产品产地: 北京

品牌商标: 彼奥德

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北京彼奥德电子技术有限公司
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1.         分析方法及原理。

在定温下,测定不同相对压力时的气体在固体表面的吸附量后,基于布朗诺尔-埃米特-泰勒(BET)的多层吸附理论及其公式可计算出固体的比表面积,基于凯尔文的毛细管凝理论及其公式,惠勒关于综合考虑毛细管凝聚和多层吸附的理论,原则上便可以计算出固体精细比表面积。

SSA系列比表面分析仪  技术指标及应用范围:

 

1.  测量重复性误差                ≤2%

2.             测量范围               

此表面测量范围:     0.01㎡/g ≤ X㎡/g ≤ 3500㎡/g

3. 基线稳定线             

半小时基线漂移不大于0.1mv,噪声不大于0.05mv。

4.              要求气体纯度

吸附质——氮气,纯度99.99%以上。

载气——氦气,纯度99.99%以上。

或氢气,纯度99.99%以上。(注意被测物不能与氢气作用)

5. 仪器供电电源

交流220v±10%,电流频率50赫兹,功率不大于200瓦。

6.              主机外形尺寸: 厚450×宽740×高800mm     重量:约70Kg

7.              计算机配备系统:

处理器:Intel Pentium 2 以上

内存: 64MB以上

显示器设备:17寸纯平高分辨率彩显

Windows98以上操作系统

8.  采样频率:          100HZ

9.  最小峰宽:          0.1min

10.  最低峰高检测限      20uV

本产品已申请专利,专利号为02229474.0