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聚焦离子束激光离子化纳米质谱成像系统

聚焦离子束激光离子化纳米质谱成像系统

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产品名称: 聚焦离子束激光离子化纳米质谱成像系统

英文名称:

产品编号: FELMER

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产品产地: 日本

品牌商标: TOYAMA

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聚焦离子束激光离子化纳米质谱成像系统 (FILMER)

                  ---纳米尺寸表面质谱成像

FILMER基于二次离子质谱技术,集成了聚焦离子束,扫描电子显微镜和激光器。

功能

 二次离子质谱

                                           

原理

用聚焦离子束溅射试样表面,收集和分析排出的二次离子;

数据采集

这些二次离子的质量/电荷比及质谱可确定元素,同位素,或分子组成;

激光二次中性质谱(Laser-SNMS

                                             

原理

用聚焦离子束溅射试样表面,使用激光共振电离大多数溅射中性原子;

数据采集

与二次离子质谱相同

聚焦离子束精细加工

                                         

可以通过连续Ga聚焦离子束连续溅射样品表面除去想要除去的部分;

二次离子质谱及扫描电子显微镜观测

                       

可实现二次离子质谱及扫描电子显微镜两种观测方式;

         

 

主要特点:

1. 高空间分辨率

□ 横向分辨率 < 40nm

□ 质谱分辨率 m/Δm >7000@m/z=56

2. 可原位加工和分析,避免暴露于空气中

□ SEM小损伤观测,可定位值FIB相同位置;

□ 可分析颗粒表面及横截面

3. 可实现激光二次中性质谱

□ 与传统SIMS相比可显著改善信号灵敏度;

□ 高灵敏度的有机化合物分析;

 

 

 

 

性能

 

原始束流

30kV Ga+

横向分辨率

40 nm

测量范围

500μm ~ 500nm

质谱分析

飞行时间TOF

质谱分辨率m/z = 56)

m/Δm = 7000

激光器

飞秒激光器

激光波长

1030nm, 515nm, 355 nm, 257nm

激光能量

10W / 1mJ (1030nm)

扫描电子显微镜

30kV  ~ 5 kV

扫描电子显微镜横向分辨率

30nm

样品尺寸

X1cm×Y1cm×Z3mm

机械操作

5

可选

电荷中和装置转移容器,

 

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