拥有专利技术的广角几何（WAG）,400W X光管，60 kV发生器，8个二次靶，8款滤光片，高分辨率硅漂移探测器完全满足轻元素检测的要求。X-7600SDD LE的问世使得元素周期表中所有元素的检测都能得到最佳结果。X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“最先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地质和贵金属检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能。这是研究与开发领域中最理想的系统。X-7600SDD LE 提高了轻元素检测的精度，例如：F、Ne、NaX-7600SDD LE，使用先进的SDD探测器，具有低电子噪音和高计数率的特点，与 Si-Li 探测器（液氮冷却）相比具有更高的分辨率，能更快的得到检测结果。8个二次靶为快速精确的定量分析提供了最大的灵敏度，即使是是在一些复杂的基质中，例如：合金、塑料和地质样品。可定制的靶为了达到ppb级的检测极限。X-7600 LE 能检测液体、固体、浆状、粉末状，片状样品，样品室能容纳不同形状和尺寸的样品。
F(9) - U(92) ——使用极薄的高分子聚合物探测窗ppb - 100%Rh – 阳极标准 (mo, W, ag, cr 可选).60kV, 400W. 10-5000µa (in 1µa increments).直接激发或二次靶激发室温条件下精确到0.1%高分辨率硅漂移探测器（SDD），极薄的高分子聚合物探测窗，热电冷却，避免使用液氮冷却能在1.6us的峰优化操作时间内达到123ev的最佳分辨率，出色的结果可以通过大范围的输入计数率传送，在更短的峰操作时间内，高计数率能被处理。10 个位置 (18 个位置可选).空气/真空/ 氦气.8款软件可选.8款软件可选: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd. 115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.多信道分析专利广角几何（WAG）未包装 85 x 85 x 105, 含包装 145 x 95 x 135.150kg (净重), 200kg (总重).直径28cm, H=5cm.集成计算机nEXt， 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。用户可自定的数据报表及打印形式１８样品的旋转式自动给样系统，样品旋转机制，专业的基本参数算法。